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泰納克實(shí)驗設備發(fā)生故障的原因一般可歸納為以下3類(lèi)：
?。?/font>1）儀器設備外部因素不正常所引起的故障；
?。?/font>2）人為的操作使用過(guò)程不當引起的故障；
?。?/font>3）儀器設備自身內部某些元件質(zhì)量缺陷引起的故障。
泰納克實(shí)驗設備外部因素不正常引起的設備故障這類(lèi)故障主要由于實(shí)驗室環(huán)境溫度、濕度不適宜，供電電壓不穩，外部電磁場(chǎng)以及儀器受震動(dòng)而引起的。在溫度過(guò)高、濕度過(guò)大、通風(fēng)不良等環(huán)境條件下，設備運行過(guò)程中某些元件會(huì )過(guò)熱，甚至燒毀，電路板會(huì )氧化、遭腐蝕損壞，電路短路以及導電性灰塵吸潮也能夠直接燒壞元件。操作不當或麻痹大意引起故障如果操作者在實(shí)驗過(guò)程中操作不當，致使一些液體流入儀器內部的電路板或元件上，會(huì )發(fā)生化學(xué)腐蝕和電化學(xué)腐蝕，使儀器受損。有的儀器設備在開(kāi)機后須預熱一段時(shí)間方可使用，而有的儀器設備在開(kāi)機后須按要求進(jìn)行調整、校正參數才能使用。如果儀器發(fā)生故障前的征兆沒(méi)能引起使用者注意，極有可能造成儀器損壞。這些人為操作不當出現的故障應引起管理者足夠重視。儀器設備質(zhì)量問(wèn)題引起的故障碳膜電位器，多圈電位器或機械零部件因磨損、氧化或接觸不良能夠造成儀器設備的故障；儀器設備所使用的元器件性能不佳，例如，半導體器件、集成電路、電阻、電容等性能不穩定也會(huì )引發(fā)故障；
王經(jīng)理
18695992058
毛經(jīng)理
13598458623
