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【知識】X射線(xiàn)熒光光譜分析
點(diǎn)擊次數：1618  更新時(shí)間：2021-09-16
 
　　一臺典型的X射線(xiàn)熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。
　　然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。X射線(xiàn)照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線(xiàn)被稱(chēng)為X射線(xiàn)熒光。利用X射線(xiàn)熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素（F）到92號元素（U）。
　　X射線(xiàn)用于元素分析，是一種新的分析技術(shù)，但在經(jīng)過(guò)二十多年的探索以后，現在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域。
　　每個(gè)元素的特征X射線(xiàn)的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關(guān)外，還與這種元素在樣品中的含量有關(guān)。根據各元素的特征X射線(xiàn)的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線(xiàn)熒光分析的基本原理。
　　X射線(xiàn)熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)：對于已壓鑄好的機械零件可以做到無(wú)損檢測，而不毀壞樣品。測試速率高，可以在較少時(shí)間內進(jìn)行大量樣品測試，分析結果可以通過(guò)計算機直接連網(wǎng)輸出。分析速度較快。對于純金屬可采用無(wú)標樣分析，精度能達分析要求。不需要專(zhuān)業(yè)實(shí)驗室與操作人員，不引入其它對環(huán)境有害的物質(zhì)。
　　X射線(xiàn)熒光分析儀的缺點(diǎn)：關(guān)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時(shí)，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會(huì )出現誤差。
　　不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價(jià)態(tài)。對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進(jìn)行標準曲線(xiàn)繪制，分析結果的精確性是建立在標樣化學(xué)分析的基礎上。標準曲線(xiàn)模型需求不時(shí)更新，在儀器發(fā)生變化或標準樣品發(fā)生變化時(shí)，標準曲線(xiàn)模型也要變化。

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