基本結構
現代X射線(xiàn)熒光光譜分析儀由以下幾部分組成;X射線(xiàn)發(fā)生器(X射線(xiàn)管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統(分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統(脈沖輻射分析器、定標計、計時(shí)器、積分器、記錄器)。
應用
1.可以進(jìn)行固體、粉末、薄膜、液體樣品及不規則樣品的無(wú)標樣元素的定性定量分析。主要用于金屬、無(wú)機非金屬等材料中化學(xué)元素的成分分析,范圍從‘Be~92 U。
我們再來(lái)看看一些關(guān)于X射線(xiàn)熒光光譜儀(XRF)的常見(jiàn)問(wèn)題吧!
XRF能掃描全部元素嗎?不能做全部元素掃描,因為輕質(zhì)元素能量躍遷很小,不容易捕捉。最好情況下XRF能檢測Na(第十一號元素)以后的元素。
2.XRF測元素含量時(shí)被測元素的化合價(jià)態(tài)對定量分析結果有沒(méi)有影響?
XRF只能進(jìn)行元素分析,而不能進(jìn)行價(jià)態(tài)分析。即它的分析結果包括所有價(jià)態(tài)的元素總量。例如Cr的分析,它分辨不出材料中Cr是以金屬Cr、三價(jià)鉻還是六價(jià)鉻的形式存在,只能給出總鉻的含粒
3.X射線(xiàn)衍射儀與X射線(xiàn)熒光光譜儀的區別?
X射線(xiàn)衍射儀(XRD)是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內的主要儀器,用于對結晶物質(zhì)的定性和定量分析。
X射線(xiàn)熒光光譜儀(XRF)是通過(guò)測定二次熒光的能量來(lái)分辨元素的,可做定量或定性分析。
兩種儀器構造與使用對象不同,XRD要復雜,XRF通常比較小。x射線(xiàn)熒光和x射線(xiàn)衍射的區別在于前者是對材料進(jìn)行成份分析的儀器,而后者則主要是對材料進(jìn)行微觀(guān)結構分析以便確定其物理性狀的設備。