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儀器儀表科學(xué)發(fā)展優(yōu)勢
50年代初期，儀器儀表取得了重大突破，數字技術(shù)的出現使各種數字儀器得以問(wèn)世，把模擬儀器的精度、分辨力與測量速度提高了幾個(gè)量級，為實(shí)現測試自動(dòng)化打下了良好的基點(diǎn)。60年代中期，測量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展，計算機的引入，使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化，從個(gè)別電量的測量轉變成測量整個(gè)系統的待征參數，從單純的接收、顯示轉變?yōu)榭刂?、分析、處理、計算與顯示輸出，從用單個(gè)儀器進(jìn)行測量轉變成用測量系統進(jìn)行測量。70年代，計算機技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透，使電子儀器在傳統的時(shí)域與頻域之外，又出現了數據或(Data domain)測試。80年代，由于微處理器被用到儀器中，儀器前面板開(kāi)始朝鍵盤(pán)化方向發(fā)展，過(guò)去直觀(guān)的用于調節時(shí)基或幅度的旋轉度盤(pán)，選擇電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開(kāi)關(guān)，通、斷開(kāi)關(guān)鍵已經(jīng)消失。測量系統的主要模式，是采用機柜形式，全部通過(guò)IEEE-488總線(xiàn)送到一個(gè)控制品上。測試時(shí)，可用豐富的BASIC語(yǔ)言程序來(lái)高速測試。不同于傳統獨立儀器模式的個(gè)人儀器已經(jīng)得到了發(fā)展。90年代，儀器儀表與測量科學(xué)進(jìn)步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現在以下幾個(gè)方面：微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設計：DSP芯片的大量問(wèn)世，使儀器儀表數字信號處理功能大大加強；微型機的發(fā)展，使儀器儀表具有更強的數據處理能力；圖像處理功能的增加十分普遍；VXI總線(xiàn)得到廣泛的應用。
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